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影响K6-C涂层测厚仪测量结果的因素有哪几点
时间:2022-08-29 点击次数:473
  K6-C涂层测厚仪内部配备了不同频率和晶片尺寸的探头,可以实现对不同材料的表面镀膜厚度测量,通过探头到零度校准和两点校准等功能进行自动的误差调整,同时,使用反测声速,来提升测量准确度。根据测量的材质不同而使用不同的测量方式。其中,常用的两种测量工作方式是磁感应测量和电涡流测量。
 
  磁感应测厚方法主要用来测量导磁性材料上的非导磁镀层厚度,这种测量的方法准确度较高,通常用来测量钢、铁、银等导磁材料。当K6-C涂层测厚仪的探头与覆层接触时,探头会与磁性金属基体形成一个闭合的磁路,但是磁性金属表面的非磁性覆层将会阻碍磁路,从而发生磁阻变化,通过测量磁阻的变化量,就可以得到表面覆盖层的厚度。
 
  影响K6-C涂层测厚仪测量结果的因素可能有:
 
  1、覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
 
  2、基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
 
  3、任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
 
  4、对试样测定存在边缘效应,,即对靠近试样样边缘或内转角处的测量是不可靠的;
 
  5、试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
 
  6、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大。

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